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利用高温烘箱来进行微机元件的可靠性筛选

发布时间:2021-06-03   点击次数:105次
  微机的稳定性和可靠性是与不同厂商的设计水平、制作工艺、元器件质量等有非常密切的关系,但是它很难进行精确测试,常用的测试方法有以下几种。
 
  微机可靠性测试
 
  微机可靠性测试主要包括:环境测试、寿命测试、电气测试、现场测试和特种测试。通常环境测试有温度条件测试、电气条件测试、设备震动测试、电磁干扰测试和人为因素等。
 
  稳定性测试通常采用拷机的方法进行,对于新安装的微机,就是让它不停的运行某个测试软件。但是这种测试方法也存在缺点,如果设置为全面测试,则长时间对磁盘读写反而会降低硬盘的使用寿命。
 
  利用高温烘箱进行元件的可靠性筛选
 
  对于进行维修的电子元器件,应当把他们的特性测试一遍,然后,对所有元器件都施加外应力,经过一定的时间实验后,再把所有的特性复测一遍,以删除不合格的元件,这一过程称为筛选。
 
  主要方法有:高温存储筛选,这是一种加速器件存储寿命实验,把元器件放在高温烘箱内,温度通常在120-300℃之间,通过热应力加速内部硅芯片表面的电化效应,使潜在的故障加速暴露,这对于引线焊接不良、氧化层缺陷、污染等都有筛选作用。
 
  功率老化筛选是将元器件放在高温烘箱环境中,再连续加上一定的功率。经过较长时间的试验后,再测试的筛选方法。这与实际情况比较接近,是一种有效的筛选措施,他对于沟道漏电、硅片裂纹、封装不良等都有良好的效果。
 
  温度冲击试验是采用高低温交替冲击的办法,剔除有潜在故障的元器件,在剧烈的高低温交变作用下,元器件内各种材料的热胀冷缩不匹配,芯片引线温度系数不匹配等缺陷都会加速暴露出来。
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